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AOI 系統(tǒng)又一新技術(shù)突破!

更新時(shí)間:2011-08-06 09:58:00 閱讀:819
繼之前半導(dǎo)體E-mapping 系統(tǒng)完成后, 中方精密量測研發(fā)小組開發(fā)完成針對Wafer 切割道與道幅量測的 AOI 系統(tǒng) , 從 MES Link Lot. Wafer No. 到自動(dòng)送Wafer進(jìn)入量測機(jī)臺與自動(dòng)偵測道幅量測AOI 一氣呵成!是封裝測試少量多樣的最佳選擇!該技術(shù)可延伸應(yīng)用于面板玻璃切割或PCB板。
詳情請撥中方科技臺北總公司0914-168166項(xiàng)目經(jīng)理邱培其先生。